用于SoC设计的DFT和BIST

用于SoC设计的DFT和BIST，讲解了在SOC设计中需要考虑的可测性设计问题 -SoC design for DFT and BIST, explain in the SOC design need to consider design-for-test issues

 属性            大小     日期    时间   名称
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     文件     151040  2007-06-03 17:04  用于SoC设计的DFT和BIST.doc

     文件        218  2007-06-05 03:14  www.pudn.com.txt

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